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Bhushan, B. a. o. (Edts.): Applied scanning probe methods. Part 9: Characterization. (=Nano Science and Technology; 9). Berlin, Springer, 2008. LIX, 387 S. : Ill., graph. Darst. Hardcover ISBN: 9783540740827 Like new. Shrink wrapped.
[SW: Nanowisssenschaft, Nanotechnologie, Physik]
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Bestell-Nr.: 813178 - gefunden im Sachgebiet: Technik
Anbieter: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, DE-10439 Berlin Prenzlauer Berg

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