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Lawrence E. Murr: Electron and Ion Microscopy and Microanalysis. Principles and Applications. Deutschland Marcel Dekker, Inc. New York and Basel. 1982. Buch, Hardcover Ehemaliges Uni-Exemplar, lichtrandig, Cover minimal bestossen, leicht angestaubt, sonst gut erhalten Altersfreigabe FSK ab 0 Jahre
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Bestell-Nr.: 103514 - gefunden im Sachgebiet: Sachbücher (engl.)
Anbieter: Buch-Mars, DE-58675 Hemer
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