Die Antiquariatsbuchplattform von


Erweiterte Suche
Mein Konto    Warenkorb
Sie haben keine Artikel im Warenkorb.  

Artikelbeschreibung

Bhattacharya, Debashis/ Hayes, John P.
Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing

gefunden im Sachgebiet: Technik

-former library book in good condition- Kluwer, Boston, 1990. X, 159 pages with some graphics, hard cover

EUR20,00
inkl. MwSt. zzgl. Versand: EUR 5,90
Lieferzeit: 1 - 3 Werktage
In den Warenkorb
Bei Problemen in Zusammenhang mit einer Bestellung erreichen Sie uns am besten über unsere E-Mail-Adresse: Celler.Versandantiquariat@t-online.de Die Europäische Kommission stellt eine Plattform zur Online-Streitbeilegung (OS) bereit.
Dieses Angebot wurde bereits 34 mal aufgerufen

Sparen Sie Versandkosten beim Kauf ähnlicher Angebote dieses Anbieters

Starkstromschutzanweisung
Anhang zur Telegraphenverordnung. Ausgabe Februar 1932

EUR 24,00
Details zum Buch...
Adam Opel AG, Rüsselheim
Commodore. Betriebsanleitung

EUR 12,00
Details zum Buch...
Dingler, Dr. Johann Gottfried (Hrsg.)
Polytechnisches Journal. Band 103

EUR 24,50
Details zum Buch...
Grimm, Erhard
Fachkunde für Datenverarbeiter

EUR 5,00
Details zum Buch...

FF-Nutzer: Kostenloses Such-Plugin für Antikbuch24 installieren
IE-Nutzer: Kostenloses Such-Plugin für Antikbuch24 installieren

Sie sind auf der Suche nach einem anderen Titel?

Suchmöglichkeiten begrenzen auf


Oder durchsuchen Sie unsere Seite doch einmal mit Google!


Artikeldetails

EUR 20,00
inkl. MwSt. zzgl. Versand: EUR 5,90
Lieferzeit: 1 - 3 Werktage
Preis umrechnen

Bestell-Nr.: 1p3039

In den Warenkorb


Versandziel anpassen

Anbieter

Celler Versandantiquariat, DE-29358 Eicklingen

Top