Bhushan, B. a. o. (Edts.): Applied scanning probe methods. Part 9: Characterization. (=Nano Science and Technology; 9). Berlin, Springer, 2008.

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Bhushan, B. a. o. (Edts.):
Applied scanning probe methods. Part 9: Characterization. (=Nano Science and Technology; 9).
Berlin, Springer, 2008.
ISBN/EAN: 9783540740827

gefunden im Sachgebiet: Technik

LIX, 387 S. : Ill., graph. Darst. Hardcover

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[SW: Nanowisssenschaft, Nanotechnologie, Physik]
Nanowisssenschaft, Nanotechnologie, Physik

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